отражённых электронов

См. также в других словарях:

• Дифракция отражённых электронов — Картина, полученная методом дифракции отражённых электронов (National Institute of Standards and Technology Materials Reliability Division) …   Википедия

• дифракция отражённых электронов — atsispindėjusiųjų elektronų difrakcija statusas T sritis fizika atitikmenys: angl. reflection electron diffraction vok. Reflexionselektronenbeugung, f rus. дифракция отражённых электронов, f pranc. diffraction électronique par réflexion, f …   Fizikos terminų žodynas

• Растровый электронный микроскоп — …   Википедия

• Электронный микроскоп —         прибор для наблюдения и фотографирования многократно (до 106 раз) увеличенного изображения объектов, в котором вместо световых лучей используются пучки электронов, ускоренных до больших энергий (30 100 кэв и более) в условиях глубокого… …   Большая советская энциклопедия

• ЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ — совокупность методов анализа свойств вещества по энергетич. спектрам, угл. распределениям, спиновой поляризации и др. характеристикам электронов, эмитируемых веществом под влиянием к. л. внеш. воздействий (электронных, ионных и др. зондов).… …   Физическая энциклопедия

• РАЗМЕРНЫЕ ЭФФЕКТЫ — явления в тв. телах, наблюдающиеся в условиях, когда размеры исследуемого образца сравнимы с одной из характерных длин длиной свободного пробега l носителей заряда, длиной волны де Бройля l, диффузионной длиной и т. п. Различают классич. и квант …   Физическая энциклопедия

• ВРАЩАТЕЛЬНОЕ ДВИЖЕНИЕ ЯДРА — коллективное движение нуклонов в ядре, связанное с изменением ориентации ядра в пространстве. В. д. я. обусловлено несферичностью его равновесной формы (см. Деформированные ядра). В. д. я., предсказанное О. Бором (A. Bohr) и Б. Моттельсоном (В. R …   Физическая энциклопедия

• РЭМ — Изображение пыльцы Растровый электронный микроскоп (РЭМ, англ. Scanning Electron Microscope, SEM) прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Ряд дополнительных методов позволяет получать …   Википедия

• Растровый электронный микроскоп (РЭМ) — Изображение пыльцы Растровый электронный микроскоп (РЭМ, англ. Scanning Electron Microscope, SEM) прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Ряд дополнительных методов позволяет получать …   Википедия

• сканирующий электронный микроскоп —  Scanning Electron Microscope  (SEM)  Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ)   Прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Исследуемый образец в условиях вакуума сканируется… …   Толковый англо-русский словарь по нанотехнологии. - М.

• scanning electron microscope —  Scanning Electron Microscope  (SEM)  Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ)   Прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Исследуемый образец в условиях вакуума сканируется… …   Толковый англо-русский словарь по нанотехнологии. - М.